非侵入式 CPU 测试技术问世，可实时“透视观察”处理器晶体管活动
IT之家 4 月 14 日消息，科技媒体 IEEE Spectrum 于 4 月 12 日发布博文，报道称阿德莱德大学研究团队在半导体测试领域取得突破， 发现利用太赫兹辐射可探测芯片内部晶体管活动。 IT之家注：太赫兹辐射（Terahertz Radiation）是指频率介于 0
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